پاورپوینت کامل و جامع با عنوان طیف سنجی الکترونی اتم ها در 123 اسلاید

طیف‌سنجی (بیناب نمایی) (به انگلیسی: Spectroscopy) به عنوان مطالعه برهمکنش بین نور و ماده نیز تعریف می‌شود. از لحاظ تاریخی طیف‌سنجی به شاخه‌ای از علم برمی‌گردد که نور مرئی برای مطالعات نظری در ساختار ماده و آنالیزهای کیفی و کمی استفاده می‌شد. اگرچه اخیراً به عنوان یک تکنیک جدید نه فقط برای نور مرئی بلکه بسیاری از اشکال تابش‌های الکترومغناطیسی و غیرالکترومغناطیسی مانند میکروموجها، امواج رادیویی، اشعه ایکس،الکترونها، فوتونها (امواج صوتی) و غیره بکاربرده می‌شود. از انواع روش‌های مهم و پرکاربرد در شیمی آلی می‌توان به روش‌های طیف‌سنجی مادون قرمز، جرمی، ماوراء بنفش و رزنانس مغناطیسی هسته اشاره کرد.

طیف‌سنجی اغلب در شیمی‌فیزیک (بطور مثال در نوعی تصویربرداری ام‌آرآی) و شیمی تجزیه برای شناسایی ماده از طریق طیف گسیلی یا جذبی از آنها یکار برده می‌شود. وسیله‌ای که طیف هر ماده را ثبت می‌کند طیفسنج یا اسپکترومتر نام دارد. طیف‌سنجی همچنین به طور زیاد در اخترشناسی و مشاهدات از راه دور استفاده می‌شود. اکثر تلسکوپ‌های بزرگ طیف‌نگار دارند که برای اندازه‌گیری ترکیبات شیمیایی و خواص فیزیکی اجسام نجومی یا اندازه‌گیری سرعت‌شان از طریق جابجایی دوپلری خطوط طیفی‌شان استفاده می‌شود. این نوع کاربرد در مبحث طیف‌سنجی نجومی به تفضیل آمده‌است.

انواع طیف‌سنجی (بیناب‌نمایی)

 

طیف جذبی کلوروفیل

• طیف‌سنجی فروشکست القایی لیزری
• طیف‌سنجی فلورسانسی
• طیف‌سنجی مرئی
• طیف‌سنجی فوریه
• طیف‌سنجی فرابنفش
• طیف‌سنجی فروسرخ
• طیف‌سنجی جرمی
• طیف‌سنجی تشدید مغناطیسی هسته‌ای
• طیف‌سنجی رامان
• بیناب‌نمایی لیزری
• طیف‌سنجی امپدانس الکتروشیمیایی

طیف‌بینی الکترونی (به انگلیسی: Electron spectroscopy) روشی برای پردازش و مطالعهٔ ساختار الکترونیکی و دینامیکی اتم‌ها و مولکول‌ها است. درحالت کلی یک منبع تحریک مانند پرتوهای ایکس، الکترون‌ها یا تابش سنکروترون، الکترونی که از لایه‌های داخلی تر اوربیتال اتم باشد را پس می‌زند. تشخیص فوتوالکترون‌هایی که بوسیلهٔ پرتوهای ایکس پس زده شده‌اند را طیف‌بینی فوتوالکترون اشعه ایکس (XPS) یا طیف‌بینی الکترون برای تحلیل‌های شیمیایی (ESCA) می‌نامیم. تعیین الکترون‌هایی که از اوربیتال‌های بالاتر رانده شده‌اند تا انرژی را در طول فرایند انتقال الکترون ذخیره کنند، طیف‌سنجی الکترون اوژه نام دارد (AES).

کاربرد آزمایشگاهی این کار در بالابردن دقت اندازه‌گیری (بالا رفتن رزولوشن) در شدت و زاویهٔ توزیع الکترون‌های بیرون زده شده‌است. اینکه الکترون‌های منتشر شده تنها می‌توانند از عمقی نزدیک به ۳ نانومتر یا کمتر فرار کنند باعث می‌شود تا طیف‌بینی الکترونی برای مطالعهٔ سطح مواد جامد بسیار مفید واقع گردد. همچنین با کاربرد دو فن طیف‌بینی الکترونی و sputtering یا بمباران هدف به کمک ذرات پرانرژی برای برداشتن لایه لایهٔ سطح؛ می‌توان نیمرخ یک عمق داده شده را بدست آورد.

هم اکنون در آزمایشگاه MAX در سوئد، در Elettra Storage Ring در تریستهٔ‌ ایتالیا و در ALS در برکلی بر روی تابش سنکروترون تحقیقاتی در حال انجام است.

فهرست مطالب:

ساختار الکترونی اتم ها

اتم هیدروژن

توابع مجاز

انرژی یونیزاسیون

اندازه حرکت زاویه ای اسپین الکترون و اسپین هسته ای

روش هارتری

اصل طرد پائولی

جفت شدن اندازه حرکت های زاویه ای

تقریب جفت شدن راسل-ساندرز

الکترونهای غیر هم ارز

الکترون های هم ارز

قواعد هوند

طیف های اتمی

طیف اتمهای فلز قلیایی

اتم لیتیم

طیف اتم هیدروژن

طیف هلیوم و اتم های فلز قلیایی خاکی

طیف سایر اتمهای چند الکترونی

اثر زیمن 

حرکت تقدیمی لارمور

ممان مغناطیسی اتم و ضریب g

اثر عادی و غیر عادی زیمن

تقریب بورن-اپنهایمر

طیف سنجی الکترونی مولکولهای دو اتمی

روش تغییر

مولکولهای دو اتمی جورهسته

مولکولهای دو اتمی ناجورهسته

طبقه بندی حالتهای الکترونی

قواعد انتخاب الکترونی

ساختار درشت ارتعاشی

آنالیز ارتعاشی سیستم های نوار

کاربرد داده های آنالیز ارتعاشی

و…